WITEC显微镜系统具有无损，纳米分析技术，例如拉曼成像，原子力显微镜和扫描近场光学显微镜。我们在这些方法中运用长期经验来开发创新的成像系统，以确保最佳性能和可靠性。
无论您对标准或相关方法感兴趣，WITEC都是最佳高分辨率成像的既定来源。
我们的关键技术是：
共聚焦拉曼成像：化学鉴定样品成分的光谱法。
原子力显微镜（AFM）：可视化样品地形和表面特征的高分辨率成像方法。
扫描近场光学显微镜（SNOM）：具有超出衍射极限（60 - 100 nm横向分辨率）的分辨率的光学成像。
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