SuperSharpSilicon™-力调制模式-反射涂层
NANOSENSORS™SSS-FMR AFM探头设计用于力调制模式。
为了提高纳米结构和微粗糙度的分辨率,我们提供了无与伦比的锐利性SuperSharpSilicon™尖端。
FM型用于力调制显微镜。这种AFM探头的力常数跨越了接触和非接触模式之间的差距,并专门为力调制模式量身定制。ssss - fmr尖端还可作为磁性涂层(ssss - mfmr)高分辨率尖端的基础。此外,非接触或轻叩模式操作是可能的FM尖端,但降低了操作稳定性。
该探测器具有独特的功能: