PPP-QLC-MFMR

f = 75 kHz k = 2.8 N / m | |技巧涂层:软磁性

点探测®+ -磁力显微镜-高品质因数低矫顽力,反射涂层

的纳米传感器™PPP-QLC-MFMR AFM探针结合磁性样品的低扰动软磁性涂层的机械品质因数高Q30K-Plus-Series的超高真空条件下。低矫顽力和q值超过35000使磁力显微镜的软磁性样品在特高压条件下操作和高稳定性。由于低矫顽力的尖端涂料的磁化技巧将由硬磁性样品很容易调整。

软磁性涂层尖端应用。0.75 Oe的矫顽力和剩磁磁化应用。225 emu /立方厘米(这些值测定放在一个平面上)。

SPM探针提供了独特的功能:

• 软磁层顶端一侧(应用。0.75 Oe的矫顽力、剩磁磁化的应用。225 emu /立方厘米)
• 有效的标准探测器磁矩0.75 x
• 保证尖端曲率半径小于30 nm
• 磁分辨率比35 nm
• 提示高10 - 15µm
• 铝涂层检测器的悬臂提高激光的反射率约2.5倍
• 优秀的机械品质因数在特高压条件下高灵敏度
• 定位槽座芯片的背面
• 内悬臂位置的精确对齐(+ / - 2µm)当使用对齐的筹码
• 兼容PointProbe®+ XY-Alignment系列
  
  作为涂料几乎是无压力的弯曲悬臂由于压力小于3.5%的悬臂长度。增强信号强度磁化的技巧通过一个强大的永磁建议前测量。