原子力显微镜是测量表面粗糙度的最佳工具吗?

原子力显微镜(AFM)，也被称为扫描探针显微镜(SPM)，是许多行业表面粗糙度测量的首选工具。新工艺正在生产光学和手写轮廓仪无法精确测量的低粗糙度表面。下载我们的白皮书学习:

• AFM与其他表面粗糙度测量工具相比如何
• 现代原子力显微镜如何使表面粗糙度测量更简单、更快
• AFM如何不仅可以测量表面粗糙度参数Sa和Sq，还可以测量偏度(Ssk)和峰度(Sku)，从而更完整地描述表面纹理
• AFM在半导体、数据存储、玻璃和造纸行业的应用如何

(免费下载，原子力显微镜技术领先者Asylum Research的赞美)